年度100
等級SCI
論文名稱Inference from lumen degradation data under Wiener diffusion process
全部作者Tsai, Tzong-ru; Lin, Chin-wei; Sung, Yi-ling; Chou, Pei-ting; Chen, Chiu-ling; Lio, Yuh-long
卷數IEEE Transactions on Reliability 61(3), p.710-718
ISSN(ISBN)0018-9529
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備註期刊論文