年度104
等級SCI
論文名稱Optimal two-variable accelerated degradation test plan for gamma degradation process
全部作者Tzong-Ru Tsai; Wen-Yun Sung; Y. L. Lio; Shing I. Chang; Jye-Chyi Lu
卷數IEEE Transactions on Reliability 65(1), p.459-468
ISSN(ISBN)0018-9529; 1558-1721
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備註期刊論文